ST100 超高真空扫描探针显微镜单元
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SPM System Table
Observation
chamber STM探头 Observation
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高性价比超高真空常温SPM

chamber STM探头 Observation
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此套系统可广泛用于常温超高真空(<10-8Pa)条件下STM、AFM、SNOM的观测。紧凑简易的机构、优良的减震系统可轻易地实现高性能的SPM检测。
特征
- 超高真空下为实现SPM观测的最简易紧凑制品。
- 观察室只能安装在客户的真空装置上。(需要商谈)
- 在STM观察位置,金属或有机物的沉积和光照射到样品表面可以实现(可选)。
应用
- 常温超高真空,原子级别分辨率的STM及其应用。
- 常温超高真空,AFM 及其应用(MFM, EFM, KFM等)。 (可选)
- 常温超高真空,SNOM(可选)
参数
SPM探头 | |
---|---|
最大扫描范围 (X×Y×Z) | 4×4×0.8µm |
分辨率 | 原子级别 |
真空度 | 观察室和制备室 1.3×10-8Pa, 快速进样室 1.3×10-5Pa |
STM控制器 | Nanonis™控制器 |
可选 | |
AFM功能 | 音叉式NC-AFM |
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